愛德萬推新系統，卡位CMOS/高密度晶片測試
精實新聞 2013-11-27 13:28:50 記者 羅毓嘉 報導 IC測試設備大廠愛德萬測試(Advantest,NYSE: ATE)宣佈在T2000測試平台上，推出兩組新的測試系統，據此因應高階CMOS晶片的測試需求，以及滿足電源管理、車用晶片日漸增長的市場。愛德萬指出，在T2000平台上導入新的測試系統，將可縮短客戶對晶片施測的時間，進而降低單位元件成本、推出更具價格競爭力的終端產品。
愛德萬最新推出的T2000 ISS IPE2系統，鎖定CMOS感測晶片的成長需求，而另一系統64通道通用電壓電流模組(GVI64)，則可應用於T2000測試平台上，為電源管理與汽車應用等高密度IC提供最低參數測試成本。
愛德萬指出，ISS IPE2系統搭載四核心CPU，影像處理引擎更強大，同步測試元件可分別利用不同獨立引擎進行測試，高像素高階CMOS影像感測元件測試時間將能降低46%之多，大幅加快影像處理時間，可縮短現今智慧型手機、平板電腦、數位相機/攝影機所用高像素高階CMOS影像感測元件測試時程。
愛德萬測試執行副總裁Satoru Nagumo表示，這套全新高速影像處理系統是專為因應高像素、高畫質CMOS影像感測元件趨勢所開發，其功能可滿足現今業界對於加速產品上市時程的迫切需求，目前該系統已開始出貨。
另一方面，愛德萬的GVI64通用電壓電流模組，則是專為高速並行同測所設計，可完整測試整合元件架構中各項功能，包括電源管理單元、功率放大器、ADC/DAC電源轉換器等，讓客戶精準測試各項高密度IC功能。
愛德萬指出，GVI64是將數種測試功能，包括參數測試、時序與線性量測等，全部整合於一，可一次執行一系列測試；相較之下，市場上其他測試機台卻必須結合多種模組，配備更複雜、更昂貴的效能電路板/測試載板、電路和繼電器，才能完成完善的整體測試。
愛德萬表示，GVI64的產能表現超越其他同級產品，有助於客戶縮短測試週期、減少維護需求，實現最低整體測試成本。
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